产品详情
简单介绍：
导波雷达物位计是基于时间行程原理的测量仪表，雷达波以光速运行，运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。探头发出高频脉冲并沿缆式或杆式探头传导，当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的接收器接收并将距离信号转化为物位信号。导波雷达物位计
详情介绍：
产品概述
1测量原理
◇输入
反射的脉冲信号沿缆绳传导至仪表电子线路部分，微处理器对此信号进行处理，识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由软件完成，距离物料表面的距离 D 与脉冲的时间行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 为光速，因空罐的距离 E 已知，则物位 L 为： L=E-D
◇输出
通过输入空罐高度 E（= 零点），满罐高度 F（= 满量程）及一些应用参数来设定，应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于 4 － 20mA 输出。
1.2 测量范围
F---- 测量范围
E---- 空罐距离
B---- 顶部盲区
K---- 探头到罐壁的*小距离
顶部盲区是指物料高面与测量参考点之间的距离。 底部盲区是指缆绳底部附近无法测量的一段距离。 顶部盲区和底部盲区之间是测量距离。
注意： 只有物料处于顶部盲区和底部盲区之间时，罐内物位的测量。
仪表介绍
应 用：液体、固体颗粒
测量范围：30 米
过程链接： 螺纹、法兰
过程温度：-40 ～ 250℃
过程压力：-0.1 ～ 2MPa
精 度： ±3mm
频率范围：100MHZ ～ 1.8GHZ
防爆 / 防护等级：Exd ⅡC T4 Gb /IP67
信号输出：4~20mA/HART( 两线/四线 )/RS485/Modbus
1测量原理
导波雷达是基于时间行程原理的测量仪表，雷达波以光速运行，运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。探头发出高频脉冲并沿缆式或杆式探头传导，当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的接收器接收并将距离信号转化为物位信号。
◇输入
反射的脉冲信号沿缆绳传导至仪表电子线路部分，微处理器对此信号进行处理，识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由软件完成，距离物料表面的距离 D 与脉冲的时间行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 为光速，因空罐的距离 E 已知，则物位 L 为： L=E-D
◇输出
通过输入空罐高度 E（= 零点），满罐高度 F（= 满量程）及一些应用参数来设定，应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于 4 － 20mA 输出。
1.2 测量范围
F---- 测量范围
E---- 空罐距离
B---- 顶部盲区
K---- 探头到罐壁的*小距离
顶部盲区是指物料高面与测量参考点之间的距离。 底部盲区是指缆绳底部附近无法测量的一段距离。 顶部盲区和底部盲区之间是测量距离。
注意： 只有物料处于顶部盲区和底部盲区之间时，罐内物位的测量。
仪表介绍
应 用：液体、固体颗粒
测量范围：30 米
过程链接： 螺纹、法兰
过程温度：-40 ～ 250℃
过程压力：-0.1 ～ 2MPa
精 度： ±3mm
频率范围：100MHZ ～ 1.8GHZ
防爆 / 防护等级：Exd ⅡC T4 Gb /IP67
信号输出：4~20mA/HART( 两线/四线 )/RS485/Modbus